← 返回列表

一种介电响应相位校正装置、方法、设备及介质

申请号: CN202410111738.9
申请人: 广东粤电科试验检测技术有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种介电响应相位校正装置、方法、设备及介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202410111738.9
申请日 2024/1/26
公告号 CN117686960A
公开日 2024/3/12
IPC主分类号 G01R35/00
权利人 广东粤电科试验检测技术有限公司
发明人 石泉; 冉旺; 汤龙华; 卢启付; 傅明; 付东; 徐闻婕
地址 广东省广州市越秀区西华路捶帽新街1-3号华业大厦附楼六楼601室

摘要文本

本申请公开了一种介电响应相位校正装置、方法、设备及介质,其中,校正装置包括:校正回路和测量回路,用于切换所述校正回路和所述测量回路的开关K1、开关K2和开关K3,嵌入板卡,AD模块和DA模块、以及含有校准电阻R1的校准模块;并基于校正装置设计了介电响应相位校正方法;本申请针对频域介电谱测量装置在不同测量频率、微电流不同放大倍数产生的相位偏差进行校正,提高测试效率及准确性,方便工作人员进一步分析高压套管可能存在的故障,从而解决了现有的相位校正技术效率低且准确性差的问题,减少了因套管故障引起的经济损失。

专利主权项内容

1.一种介电响应相位校正装置,其特征在于,包括:校正回路和测量回路,用于切换所述校正回路和所述测量回路的开关K1、开关K2和开关K3,嵌入板卡,AD模块和DA模块、以及含有校准电阻R1的校准模块;其中,嵌入板卡分别连接微电流放大器的分压输出端子和试品的接地回路电流传感器,并输出正弦信号驱动整个装置的测试、采集、分析;当处于校正时,所述校正回路的工作状态包括:开关K1置于其b点,开关K2置于其b点,开关K3置于其b点,DA模块输出标准正弦信号,其中,一路经开关K1、开关K2、校准电阻R1输出到微电流放大器的输入端,经微电流放大器输出接入到AD模块;另一路经过开关K1、开关K3接入到AD模块,通过两路AD信号的对比,得到电流经过微电流放大器后的相位偏差;当处于测量时,所述测量回路的工作状态包括:开关K1置于其a点,开关K2置于其a点,开关K3置于其a点,DA模块输出标准的正弦信号,其中,一路经开关K1输入正弦信号至高压放大器放大后,高压信号加载至试品,高压信号经开关K3接入AD模块;另一路经开关K2后输入到微电流放大器进行电流放大后,接入到AD模块。