← 返回列表
一种基于平板电子产品的生产质量监控方法
申请人信息
- 申请人:深圳市未尔科技有限公司
- 申请人地址:518106 广东省深圳市光明区凤凰街道东坑社区东茂路4号第一栋501
- 发明人: 深圳市未尔科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于平板电子产品的生产质量监控方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410146520.7 |
| 申请日 | 2024/2/2 |
| 公告号 | CN117689659A |
| 公开日 | 2024/3/12 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 深圳市未尔科技有限公司 |
| 发明人 | 张志 |
| 地址 | 广东省深圳市光明区凤凰街道东坑社区东茂路4号第一栋501 |
摘要文本
本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种基于平板电子产品的生产质量监控方法。方法包括：获取平板电子产品的表面图像中的目标边缘线和非目标边缘线；根据目标边缘线上边缘点的斜率变化程度和目标边缘线围成的闭合区域内非目标边缘线的数量，确定疑似崩边缺陷边缘线；根据疑似崩边缺陷边缘线上边缘点的斜率变化程度与其相邻点的灰度值的波动情况的相似度、闭合区域内像素点灰度值的离散程度和像素点的灰度值、闭合区域内像素点与其邻域像素点的灰度差异以及离散情况，筛选崩边缺陷边缘线，进而对平板电子产品的质量进行判断。本发明提高了平板电子产品生产质量监控结果的准确度。
专利主权项内容
1.一种基于平板电子产品的生产质量监控方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取待检测平板电子产品的表面图像，对所述表面图像进行边缘检测获得目标边缘线和非目标边缘线；根据每条目标边缘线上边缘点的斜率变化程度以及每条目标边缘线所围成的闭合区域内非目标边缘线的数量，得到每条目标边缘线的崩边表征值；基于所述崩边表征值确定疑似崩边缺陷边缘线；根据每条疑似崩边缺陷边缘线的崩边表征值、每条疑似崩边缺陷边缘线上边缘点的斜率变化程度与其相邻点的灰度值的波动情况之间的相似程度、每条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内像素点灰度值的离散程度、每条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内像素点的灰度值、每条疑似崩边缺陷边缘线所围成的闭合区域内每个像素点与其邻域像素点的灰度差异以及离散情况，得到每条疑似崩边缺陷边缘线的异常程度；基于所述异常程度筛选崩边缺陷边缘线；基于所述崩边缺陷边缘线对待检测平板电子产品的质量进行判断；所述基于所述崩边表征值确定疑似崩边缺陷边缘线，包括：将崩边表征值大于预设崩边阈值的目标边缘线确定为疑似崩边缺陷边缘线。