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物料质量检测方法、装置、计算机设备及存储介质
申请人信息
- 申请人:深圳思谋信息科技有限公司
- 申请人地址:518051 广东省深圳市南山区前海嘉里中心T2栋22层
- 发明人: 深圳思谋信息科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 物料质量检测方法、装置、计算机设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410041408.7 |
| 申请日 | 2024/1/11 |
| 公告号 | CN117557786A |
| 公开日 | 2024/2/13 |
| IPC主分类号 | G06V10/25 |
| 权利人 | 深圳思谋信息科技有限公司 |
| 发明人 | 倪铭昊; 姚恒志; 巫文良; 王朝云; 刘枢; 吕江波; 沈小勇 |
| 地址 | 广东省深圳市南山区前海嘉里中心T2栋22层 |
摘要文本
本申请涉及一种物料质量检测方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品。方法包括：获取待测物料的物料图片和模板图片；模板图片包括待测物料的物料缺陷对应的缺陷管控区域；对物料图片进行缺陷检测，得到物料图片中的缺陷区域和缺陷区域对应的缺陷类型；将缺陷区域映射到模板图片中，得到缺陷区域的映射结果；基于映射结果，从各个缺陷管控区域中，确定缺陷区域对应的目标缺陷管控区域；基于映射结果和目标缺陷管控区域针对缺陷类型的缺陷管控指标，确定待测物料对应的物料质量。采用本方法，能够实现提高物料质量的检测效率。
专利主权项内容
1.一种物料质量检测方法，其特征在于，包括：获取待测物料的物料图片和模板图片；所述模板图片包括所述待测物料的物料缺陷对应的缺陷管控区域；对所述物料图片进行缺陷检测，得到所述物料图片中的缺陷区域和所述缺陷区域对应的缺陷类型；将所述缺陷区域映射到所述模板图片中，得到所述缺陷区域的映射结果；基于所述映射结果，从各个所述缺陷管控区域中，确定所述缺陷区域对应的目标缺陷管控区域；基于所述映射结果和所述目标缺陷管控区域针对所述缺陷类型的缺陷管控指标，确定所述待测物料对应的物料质量。