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校正参数标定方法、装置、计算机设备和存储介质
申请人信息
- 申请人:深圳市欧冶半导体有限公司
- 申请人地址:518051 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区朗山路11号同方科兴科学园F栋2203
- 发明人: 深圳市欧冶半导体有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 校正参数标定方法、装置、计算机设备和存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410130860.0 |
| 申请日 | 2024/1/31 |
| 公告号 | CN117671036A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G06T7/80 |
| 权利人 | 深圳市欧冶半导体有限公司 |
| 发明人 | 龙彬; 周涤非 |
| 地址 | 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区朗山路11号同方科兴科学园F栋2203 |
摘要文本
本申请涉及一种校正参数标定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：将标定图像划分为多个网格区域，并确定每个网格区域的网格顶点和网格约束点；基于各网格顶点和各网格约束点分别对应的像素值，确定各网格顶点和各网格约束点分别对应的基准增益值，并组成基准增益矩阵；对基准增益矩阵进行线性拟合，并利用线性拟合结果对每个网格顶点对应的基准增益值进行优化，得到各网格顶点对应的目标增益值；根据目标增益值确定校正参数，校正参数用于图像的阴影校正。采用本方法能够提升镜头阴影校正效果。
专利主权项内容
1.一种校正参数标定方法，其特征在于，所述方法包括：将标定图像划分为多个网格区域，并确定每个所述网格区域的网格顶点和网格约束点；基于各所述网格顶点和各所述网格约束点分别对应的像素值，确定各所述网格顶点和各所述网格约束点分别对应的基准增益值，并组成基准增益矩阵；对所述基准增益矩阵进行线性拟合，并利用线性拟合结果对每个所述网格顶点对应的基准增益值进行优化，得到各所述网格顶点对应的目标增益值；根据所述目标增益值确定校正参数，所述校正参数用于图像的阴影校正。