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一种基于云计算的光学膜片数据管理系统及方法
申请人信息
- 申请人:深圳市安达新材科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市宝安区松岗街道东方社区田洋七路1号102
- 发明人: 深圳市安达新材科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于云计算的光学膜片数据管理系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410157747.1 |
| 申请日 | 2024/2/4 |
| 公告号 | CN117709755A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | G06Q10/0637 |
| 权利人 | 深圳市安达新材科技有限公司 |
| 发明人 | 张伟金; 殷红磊; 谢碧龙 |
| 地址 | 广东省深圳市宝安区松岗街道东方社区田洋七路1号102 |
摘要文本
本发明公开了一种基于云计算的光学膜片数据管理系统及方法，属于生产调试技术领域。系统包括数据采集模块、异常分析模块、智能交互模块和数据存储模块；数据采集模块用于采集异常日志、生产信息和图像信息；异常分析模块对生产信息进行分析，通过计算每条生产线的稳定指数来判断是否异常，对异常生产线进行监测并为每条异常生产线匹配关联记录；智能交互模块计算每条关联记录的相似指数，相似指数最高的历史记录作为推送记录，将推送记录的动作集合中所有动作对应的图像信息依次推送给工作人员进行异常排查，根据排查结果实时调整推送记录，直到修复所有异常生产线；数据存储模块将标号、指标集合和动作集合作为历史记录存入异常日志中。
专利主权项内容
1.一种基于云计算的光学膜片数据管理方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：S100、采集异常日志和指定区域内所有生产线的质检信息，通过摄像头对每条生产线下各工序步骤进行拍摄并获取图像信息；S200、根据质检信息计算合格率，通过合格率变化计算每条生产线的稳定指数并判断是否异常，对异常生产线进行监测并为每条异常生产线匹配关联记录；S300、计算每条关联记录的相似指数，相似指数最高的历史记录作为推送记录，将推送记录的动作集合中每个动作对应的图像信息依次推送给工作人员进行异常排查；S400、实时计算每条异常生产线的稳定指数，稳定指数大于或等于指数阈值则取消对应异常生产线的标记；排查结束后为每条异常生产线生成历史记录并存入异常日志中。