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洁净室的温湿度控制方法及系统

申请号: CN202410090984.0
申请人: 深圳市德尼环境技术有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 洁净室的温湿度控制方法及系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410090984.0
申请日 2024/1/23
公告号 CN117628599A
公开日 2024/3/1
IPC主分类号 F24F3/167
权利人 深圳市德尼环境技术有限公司
发明人 余杰华; 付旺华; 陈祥栋; 许锟
地址 广东省深圳市罗湖区南湖街道和平路金田大厦2208

摘要文本

本发明涉及温湿度控制的技术领域,公开了一种洁净室的温湿度控制方法及系统,本发明通过对洁净室进行多个节点的数据采集,以对洁净室的各个位置进行数据还原,从而判断出工作人员在洁净室中造成的影响,并依据从影响中提取到的特征分析出洁净室中的温湿度调控需求,基于温湿度调控需求生成对应的温湿度控制方案并进行执行,从而对洁净室进行高精度地温湿度控制,解决了现有技术中对洁净室的温湿度控制进行整体检测与调控、容易因为精细度对工作造成负面影响的问题。

专利主权项内容

1.一种洁净室的温湿度控制方法,其特征在于,包括:获取洁净室的区域数据,并根据所述区域数据构建基础区域模型;其中,所述区域数据包括所述洁净室的地面形状与空间高度;基于所述基础区域模型设置若干数据采集节点,在所述洁净室中对应各个所述数据采集节点的位置进行数据采集,以得到各个节点数据,将各个所述节点数据代入至所述基础区域模型中,以得到用于描述所述洁净室整体数据状况的区域模拟图谱;采集所述洁净室中的工作人员位置信息,根据所述工作人员位置信息在所述基础区域模型中生成目标单元,根据所述区域模拟图谱对所述目标单元进行环境干扰程度的模拟计算处理,以得到所述目标单元的区域干扰特征;其中,所述区域干扰特征用于描述所述目标单元对所述洁净室的环境干扰程度;根据所述区域模拟图谱和所述目标单元的区域干扰特征进行洁净室的温湿度控制方案的分析处理,以得到所述洁净室的区域控制方案,并按照所述区域控制方案对所述洁净室进行温湿度调节。