一种缺陷零件溯源方法及系统
申请人信息
- 申请人:新西旺智能科技(深圳)有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市龙华区观湖街道润城社区大和路199号艺诚公司厂房401
- 发明人: 新西旺智能科技(深圳)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种缺陷零件溯源方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410073889.X |
| 申请日 | 2024/1/18 |
| 公告号 | CN117593302A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 新西旺智能科技(深圳)有限公司 |
| 发明人 | 邱健生; 王盼; 张勇; 刘中 |
| 地址 | 广东省深圳市龙华区观湖街道润城社区大和路199号艺诚公司厂房401 |
摘要文本
本发明涉及识别技术领域,具体涉及一种缺陷零件溯源方法及系统,缺陷零件溯源方法通过将缺陷零件的图像从RGB通道变换到HSV通道,并采用局部二值卷积神经网络对该图像的HSV通道进行二值化,生成二值特征图,然后采用偏最小二乘法去除二值特征图的干扰信息,得到无干扰特征,进而根据无干扰特征进行分类,识别得到缺陷零件的溯源码信息,并基于溯源码信息对缺陷零件进行溯源,在无需对零件摆放位置有较高要求的基础上降低了光影干扰的影响,实现了对缺陷零件溯源码精确的扫描识别以及缺陷零件的精准溯源。 该数据由<专利查询网>整理
专利主权项内容
1.一种缺陷零件溯源方法,其特征在于,包括以下步骤:获取拍摄得到的缺陷零件的图像,所述缺陷零件为识别得到存在缺陷的零件,所述图像包含零件以及所述零件的溯源码;将所述图像从RGB通道变换到HSV通道;采用局部二值卷积神经网络对所述图像的HSV通道进行二值化,生成二值特征图;采用偏最小二乘法去除所述二值特征图的干扰信息,得到无干扰特征;将所述无干扰特征输入预设的分类器中,识别得到所述缺陷零件的溯源码信息,并基于所述溯源码信息对所述缺陷零件进行溯源;其中,所述缺陷零件的确定包括:获取拍摄得到的目标零件在不同点位的若干张点位图像;分别提取各所述点位图像的轮廓信息,得到各所述点位图像对应的分割图,所述分割图包括边缘部分和分割部分,所述边缘部分为所述目标零件的边缘轮廓部分,所述分割部分为所述目标零件以及所述目标零件所处的传送带的非边缘轮廓部分;选定一个所述分割图作为目标分割图,并将所述目标分割图以外的各所述分割图投射变换至所述目标分割图的像素坐标轴下,得到所述目标零件的完整轮廓;计算所述完整轮廓的各像素点的坐标与存储的所述目标零件的标准轮廓上对应的像素点的坐标的欧几里得距离,并取各所述欧几里得距离的平均值作为所述完整轮廓与所述标准轮廓的误差值;若所述误差值大于预设的阈值,将所述目标零件确定为所述缺陷零件。