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一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法

申请号: CN202410167458.X
申请人: 江苏纳帝电子科技有限公司
更新日期: 2026-03-20

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410167458.X
申请日 2024/2/6
公告号 CN117708189A
公开日 2024/3/15
IPC主分类号 G06F16/2457
权利人 江苏纳帝电子科技有限公司
发明人 潘华平; 张军昌; 潘明; 黄银山; 吴累
地址 江苏省徐州市睢宁县睢宁经济开发区永昶路899号

摘要文本

本发明属于液晶触摸屏数据分析处理技术领域,涉及到一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法。本发明通过获取各制备不合格玻璃基板,有助于保证各玻璃基板的质量和稳定性,确保了后续工艺的进行性能,通过获取各导电层制备不合格玻璃基板,有助于保证其触控性能和稳定性,通过获取各不合格的液晶注入区域,规避了在液晶注入过程中出现的问题,进而保障了其显示效果,通过获取各生产不合格的液晶触摸屏结构,规避了其在使用过程中出现的问题,保障了其显示效果和触控性能,通过获取各生产不合格的液晶触摸屏,有效地避免了液晶触摸屏在组装过程中存在的问题,保障了其外观和触控性能。

专利主权项内容

1.一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法,其特征在于:包括:S1、原始信息数据库构建:存储玻璃基板的表面洁净度阈值、标准长度、标准宽度和标准厚度,存储报废标准对应生产偏差度阈值和返工标准对应生产偏差度阈值,存储玻璃基板所属导电层的标准电导率、薄膜均匀度阈值和附着力阈值,存储制备合格玻璃基板所属导电层的符合系数阈值,存储液晶注入区域的液晶分布均匀度阈值、许可气泡数和许可杂质数,存储液晶注入区域的合规度阈值,存储液晶触摸屏结构在封装过程中的许可气泡面积和许可杂质体积,存储组件的许可错位程度,存储液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件中心点的标准坐标;S2、外观参数分析:获取各玻璃基板的外观信息参数,分析各玻璃基板的生产偏差度,并得到各制备不合格玻璃基板,对其进行管理,其中各制备不合格玻璃基板包括各一级制备不合格玻璃基板和各二级制备不合格玻璃基板;S3、导电层参数分析:获取各玻璃基板所属导电层的基本信息参数,分析得到各导电层制备不合格玻璃基板,并对其进行管理,其中各导电层制备不合格玻璃基板包括各一类导电层制备不合格玻璃基板和各二类导电层制备不合格玻璃基板;S4、液晶注入区域分析:获取各液晶注入区域的基本信息参数,分析各液晶注入区域的合规度,并得到各不合格的液晶注入区域;S5、封装参数分析:对各液晶触摸屏结构的封装过程进行分析,得到各生产不合格的液晶触摸屏结构;S6、组装参数分析:对各液晶触摸屏的组装过程进行分析,得到各生产不合格的液晶触摸屏。。该数据由<>整理