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电容式触摸按键基准值校正方法、装置、设备及可读介质
申请人信息
- 申请人:苏州华芯微电子股份有限公司
- 申请人地址:215000 江苏省苏州市高新区向阳路198号
- 发明人: 苏州华芯微电子股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 电容式触摸按键基准值校正方法、装置、设备及可读介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410138098.0 |
| 申请日 | 2024/2/1 |
| 公告号 | CN117687535A |
| 公开日 | 2024/3/12 |
| IPC主分类号 | G06F3/044 |
| 权利人 | 苏州华芯微电子股份有限公司 |
| 发明人 | 崔亚男; 江猛; 韩红娟; 雷红军; 徐君怡 |
| 地址 | 江苏省苏州市高新区向阳路198号 |
摘要文本
本发明公开了一种电容式触摸按键基准值校正方法、装置、设备及可读介质，该方法包括：按预设频率采集电容式触摸按键的电容值，得到由多个采样值组成的采样值数组；对所述采样值数组进行滤波处理，基于所述滤波处理后的采样值数组，确定所述采样值数组的噪声值；基于电容式触摸按键的当前基准值、当前采样值、触摸门限值和所述噪声值的大小关系，校正电容式触摸按键的基准值。本发明提供的电容式触摸按键基准值校正方法、装置、设备及可读介质，能够对基准值进行实时校正，使得系统能够更准确地响应真实的触摸事件，而降低环境变化的影响。
专利主权项内容
来自 。1.一种电容式触摸按键基准值校正方法，其特征在于，包括：按预设频率采集电容式触摸按键的电容值，得到由多个采样值组成的采样值数组；对所述采样值数组进行滤波处理，基于所述滤波处理后的采样值数组，确定所述采样值数组的噪声值，所述噪声值为所述滤波处理后的采样值数组中的最大采样值与最小采样值的差值；基于电容式触摸按键的当前基准值、当前采样值、触摸门限值和所述噪声值的大小关系，校正电容式触摸按键的基准值。