异常检测方法、系统、电子设备及存储介质

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本申请的实施例提供了一种异常检测方法、系统、电子设备及存储介质。该方法包括：对已获取的多个第一图像分别进行特征提取，以得到多个第一特征图，其中第一图像是无缺陷对象的图像；根据多个第一特征图中对应相同像素位置的各个像素的像素值，拟合对应各个像素位置的概率分布模型；对待检测图像进行特征提取，以得到第二特征图，第二特征图中的每个第一像素对应待检测图像中的一个区域；对于每个第一像素，将该第一像素的像素值与对应该第一像素所在位置的概率分布模型进行匹配，并得到匹配结果；根据匹配结果，确定待检测图像中对应该第一像素的区域是否存在缺陷。这种方法可以在无需缺陷的负样本的基础上实现对缺陷的精准且快速检测。