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一种芯片射频测试平台
申请人信息
- 申请人:宁波吉品科技有限公司
- 申请人地址:315000 浙江省宁波市镇海区蛟川街道中官路1188号2幢
- 发明人: 宁波吉品科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种芯片射频测试平台 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410072241.0 |
| 申请日 | 2024/1/18 |
| 公告号 | CN117590203A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 宁波吉品科技有限公司 |
| 发明人 | 冯冲; 林斌; 詹昌吉; 董传众; 俞文吉; 崔发军; 孙震 |
| 地址 | 浙江省宁波市镇海区蛟川街道中官路1188号2幢 |
摘要文本
本发明公开了一种芯片射频测试平台，包括：底座；所述底座内侧嵌入设计活动板，在所述活动板上设置有定位基座和限位框架，所述限位框架设置在所述定位基座的一侧，所述定位基座上安装有测试组件，通过调节所述测试组件在所述定位基座上的位置，检测所述限位框架内侧待测芯片的不同区域；该测试平台通过调节活动板和定位基座上方夹紧旋钮的设置位置，调节测试组件与待测芯片之间的相对位置，使测试组件可以位于待测芯片的正上方，并通过可视组件观察待测芯片的检测区域和射频测试端口是否处于同心，可以直接观察待测芯片的定位位置。
专利主权项内容
1.一种芯片射频测试平台，其特征在于，包括：底座(1)；所述底座(1)内侧嵌入设计活动板(2)，在所述活动板(2)上设置有定位基座(3)和限位框架(4)，所述限位框架(4)设置在所述定位基座(3)的一侧，所述定位基座(3)上安装有测试组件(5)，通过调节所述测试组件(5)在所述定位基座(3)上的位置，检测所述限位框架(4)内侧待测芯片(6)的不同区域。