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外延炉清洗方法和N型SiC的制备方法

申请号: CN202410231904.9
申请人: 浙江求是半导体设备有限公司
更新日期: 2026-03-20

专利详细信息

项目 内容
专利名称 外延炉清洗方法和N型SiC的制备方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410231904.9
申请日 2024/3/1
公告号 CN117802582A
公开日 2024/4/2
IPC主分类号 C30B29/36
权利人 浙江求是半导体设备有限公司
发明人 曹建伟; 傅林坚; 刘毅; 周文龙; 朱亮
地址 浙江省杭州市临平区临平街道顺达路500号1幢102室

摘要文本

本发明涉及一种外延炉清洗方法和N型SiC的制备方法,该外延炉的清洗方法包括以下步骤:向外延炉的反应腔室内通入ClF3和惰性气体的混合气体第一预设时长,然后用惰性气体对反应腔室进行气体置换;升高反应腔室的温度,向反应腔室内通入载有NH3或O2的气体第二预设时长,然后用惰性气体对反应腔室进行气体置换并降温;循环上述步骤直至反应腔室内壁的SiC和/或氮化物被去除,用惰性气体对反应腔室进行气体置换。该外延炉清洗方法能够完全去除反应腔室内沉积的碳化硅和氮化物,避免在N型SiC的生长过程中出现背景记忆效应,使不同批次间N型SiC掺杂浓度均匀。

专利主权项内容

1.一种外延炉的清洗方法,其特征在于,包括以下步骤:向外延炉的反应腔室内通入ClF和惰性气体的混合气体第一预设时长,然后用惰性气体对所述反应腔室进行气体置换;3向所述反应腔室内通入载有NH或O的气体第二预设时长,然后用惰性气体对所述反应腔室进行气体置换并降温;32循环上述步骤直至所述反应腔室内壁的SiC和/或氮化物被去除,用惰性气体对所述反应腔室进行气体置换。