← 返回列表
网格状绕线薄弱点检测方法、装置和计算机设备
申请人信息
- 申请人:杭州广立微电子股份有限公司
- 申请人地址:310013 浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座
- 发明人: 杭州广立微电子股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 网格状绕线薄弱点检测方法、装置和计算机设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410025752.7 |
| 申请日 | 2024/1/8 |
| 公告号 | CN117524915A |
| 公开日 | 2024/2/6 |
| IPC主分类号 | H01L21/66 |
| 权利人 | 杭州广立微电子股份有限公司 |
| 发明人 | 万晶; 杨璐丹; 瞿屹超 |
| 地址 | 浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座 |
摘要文本
本申请涉及一种网格状绕线薄弱点检测方法、装置和计算机设备。该方法包括：获取待检测的网格状绕线结构；其中，网格状绕线结构包括沿着第一方向的第一走线，第一方向为与电信号传输方向相同的方向；设置辅助条纹，并获取与辅助条纹相交的第一走线数量；基于第一走线数量，确定网格状绕线结构的走线薄弱点。采用本方法能够解决现有技术中走线薄弱点检测效率较低的问题。
专利主权项内容
1.一种网格状绕线薄弱点检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测的网格状绕线结构；其中，所述网格状绕线结构包括沿着第一方向的第一走线，所述第一方向为与电信号传输方向相同的方向；设置辅助条纹，并获取与所述辅助条纹相交的第一走线数量；基于所述第一走线数量，确定所述网格状绕线结构的走线薄弱点。 （更多数据，详见）