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一种晶圆键合电性能测试治具

申请号: CN202323467941.X
申请人: 无锡明祥电子有限公司
申请日期: 2023/12/19

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种晶圆键合电性能测试治具
专利类型 实用新型
申请号 CN202323467941.X
申请日 2023/12/19
公告号 CN222106604U
公开日 2024/12/3
IPC主分类号 H01L21/67
权利人 无锡明祥电子有限公司
发明人 王子龙; 胡耀军
地址 江苏省无锡市惠山区经济开发区玉祁配套区祁北路北侧

摘要文本

本实用新型公开了一种晶圆键合电性能测试治具,包括测试治具本体,所述测试治具本体的上表面固定连接有底座,底座的顶部滑动连接有放置板,放置板的两侧外壁均滑动连接有限位架,限位架之间固定连接有两个连接架,所述放置板的内部开设有避位槽,避位槽内滑动连接有U型架,且U型架穿过连接架,所述U型架的两端均固定连接有固定块。本实用新型不仅能够使键合后的晶圆的位置得到调节,方便后续测试治具本体对其进行检测,提高了装置的定位效果,同时能够通过楔型块与转把的配合使用,使放置板的位置得到固定,提高了装置的固定效果,还能够通过辅助固定机构进一步使放置板的位置更加的稳定。 百度马 克 数据网

专利主权项内容

1.一种晶圆键合电性能测试治具,包括测试治具本体(1),其特征在于,所述测试治具本体(1)的上表面固定连接有底座(3),底座(3)的顶部滑动连接有放置板(13),放置板(13)的两侧外壁均滑动连接有限位架(12),限位架(12)之间固定连接有两个连接架(14),所述放置板(13)的内部开设有避位槽(16),避位槽(16)内滑动连接有U型架(8),且U型架(8)穿过连接架(14),所述U型架(8)的两端均固定连接有固定块(7),所述底座(3)的两侧外壁均滑动连接有楔型块(6),且固定块(7)与楔型块(6)相接触,所述底座(3)的内部转动连接有蜗杆(23),蜗杆(23)的一端穿过底座(3)并固定连接有转把(4),且转把(4)与楔型块(6)相接触,所述底座(3)的内部设有动力机构,所述底座(3)的两侧均设有辅助固定机构。