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专利摘要

本发明公开了一种低浓度P型磷化铟单晶的制备方法,包括以下步骤:S1,对采用VGF法生长单晶时使用的石英管、封帽及氮化硼坩埚进行高温退火处理;S2,采用VGF法生长低浓度P型磷化铟单晶;本发明通过对石英管、封帽及氮化硼坩埚进行高温退火处理,充分去除了石英管、封帽及氮化硼坩埚中的羟基(OH)杂质,从而降低了磷化铟单晶中的氢含量,进而降低了磷化铟单晶中VInH4施主缺陷的浓度。

专利状态

基础信息

专利号
CN201811652934.8
申请日
2018-12-29
公开日
2019-04-16
公开号
CN109629003A
主分类号
/C/C30/ 化学;冶金
标准类别
晶体生长
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

刘京明 赵有文

申请人

珠海鼎泰芯源晶体有限公司

申请人地址

519000 广东省珠海市香洲区高新区金鼎工业片区金瑞二路南侧A1栋厂房

专利摘要

本发明公开了一种低浓度P型磷化铟单晶的制备方法,包括以下步骤:S1,对采用VGF法生长单晶时使用的石英管、封帽及氮化硼坩埚进行高温退火处理;S2,采用VGF法生长低浓度P型磷化铟单晶;本发明通过对石英管、封帽及氮化硼坩埚进行高温退火处理,充分去除了石英管、封帽及氮化硼坩埚中的羟基(OH)杂质,从而降低了磷化铟单晶中的氢含量,进而降低了磷化铟单晶中VInH4施主缺陷的浓度。

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