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专利摘要

本发明总体地涉及新型二维半导体材料制备技术领域,提供了一种利用促进剂生长单层二硫化钼或二硒化钼的方法,它使用化学气相沉积法(CVD)在促进剂碱土金属氯化物的作用下在氧化硅基底上直接生长大尺寸、高质量、高光致发光强度的二硫化钼(MoS

专利状态

基础信息

专利号
CN202010770393.X
申请日
2020-08-04
公开日
2020-11-06
公开号
CN111893565A
主分类号
/C/C30/ 化学;冶金
标准类别
晶体生长
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

王珊珊 李守恒 徐淘 江天 程海峰

申请人

中国人民解放军国防科技大学

申请人地址

410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号

专利摘要

本发明总体地涉及新型二维半导体材料制备技术领域,提供了一种利用促进剂生长单层二硫化钼或二硒化钼的方法,它使用化学气相沉积法(CVD)在促进剂碱土金属氯化物的作用下在氧化硅基底上直接生长大尺寸、高质量、高光致发光强度的二硫化钼(MoS

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