用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备

专利主权项内容

1.一种用于低温辐射性能测试的样品杆装置，其特征在于，所述样品杆装置包括：具有中空内腔的真空管；具有容腔的真空罩体；所述真空罩体包括一端具有开口的罩体，以及结合固定在罩体开口处的且与真空管一端部结合固定的二级传热环件；悬置在真空罩体容腔内的导热板，该导热板通过连接件与二级传热环件连接固定，且所述连接件与罩体之间不相接触；所述样品杆装置还包括有：放置在导热板板面上的样品组件；所述样品组件包括：位于底部的稳温端底座；位于顶部的发射端顶座；以及一端与稳温端底座连接固定，另一端与发射端顶座连接固定的屏蔽罩体；所述稳温端底座、发射端顶座以及屏蔽罩体形成有容纳腔；所述屏蔽罩体外侧壁表面与连接件之间，以及发射端顶座顶部表面与二级传热环件底部表面之间均不相接触；所述样品组件还包括有：悬置于所述容纳腔内的通过量热棒与所述稳温端底座连接固定的吸收端样品件；以及悬置于所述容纳腔内的通过绝热棒与所述发射端顶座连接固定的发射端样品件；所述发射端样品件处于吸收端样品件上方位置且对应设置，且所述吸收端样品件顶部表面与发射端样品件底部表面之间留有间隙。