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共阴光器件背光探测器负偏置电流测试电路
摘要文本
成都光创联科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本发明涉及共阴光器件背光探测器负偏置电流测试电路，包括MCU控制单元、负偏置电压调整单元、漏电流I/V转换单元、漏电流检出单元、极性翻转单元、测试模式切换单元。本发明通过在背光探测器阳极接入本电路，对已装配激光器和背光探测器的共阴光器件，在不拆装背光探测器的情况下对背光探测器的性能进行测试；通过调整负偏置电压，实现对多种类的背光探测器性能测试。
专利主权项内容
1.共阴光器件背光探测器负偏置电流测试电路，其特征在于：包括：MCU控制单元，与负偏置电压调整单元的输入端连接，用于输出模拟电压；负偏置电压调整单元，分别与漏电流I/V转换单元的输入端、漏电流检出单元的输入端连接，用于将模拟电压放大和翻转后输出负偏置电压施加到背光探测器，使背光探测器工作在负偏置状态，以及将负偏置电压传输至漏电流I/V转换单元、漏电流检出单元；漏电流I/V转换单元，与漏电流检出单元的输入端连接，用于将背光探测器工作在负偏置状态时的漏电流转换为负电压值，并传输至漏电流检出单元；漏电流检出单元，与极性翻转单元的输入端连接，用于对负偏置电压调整单元输出的负偏置电压和漏电流I/V转换单元输出的负电压值进行差分运算，并传输至极性翻转单元；极性翻转单元，与MCU控制单元的输入端连接，用于将漏电流检出单元所检出的背光探测器的负电压翻转为正电压，并传输至MCU控制单元，通过MCU控制单元计算出背光探测器的漏电流。。来源：马 克 数 据 网
专利申请信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 共阴光器件背光探测器负偏置电流测试电路 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311752271.8 |
| 申请日 | 2023/12/19 |
| 公告号 | CN117420479B |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | G01R31/52 |
| 权利人 | 成都光创联科技有限公司 |
| 发明人 | 刘伟; 许远忠; 张强; 姚娜; 熊伟霖 |
| 地址 | 四川省成都市高新区西区大道199号C1栋3层 |