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一种存储装置及其数据处理方法
申请人信息
- 申请人:合肥康芯威存储技术有限公司
- 申请人地址:230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层
- 发明人: 合肥康芯威存储技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种存储装置及其数据处理方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311704419.0 |
| 申请日 | 2023/12/13 |
| 公告号 | CN117393032B |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G11C29/56 |
| 权利人 | 合肥康芯威存储技术有限公司 |
| 发明人 | 蔡孟翔; 李钢 |
| 地址 | 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层 |
摘要文本
本发明涉及静态存储技术领域，特别涉及一种存储装置及其数据处理方法。存储装置包括：闪存模块，包括：固件存储面，用以存储固件程序；其他存储面，包括多个区块，用以存储主机写入的数据；控制模块，电连接于闪存模块，用以判断其他存储面上的测试区块是否存在于坏块表中，并基于判断结果，对测试区块进行测试，坏块表为在闪存模块的筛选测试中，对坏区块创建的表；其中，控制模块对其他存储面上的多个测试区块进行擦除处理，并根据擦除结果，以生成测试信息。本发明可快速高效的筛选出产品性能良好的存储芯片，提高存储芯片的检测效率。
专利主权项内容
1.一种存储装置，其特征在于，包括：闪存模块，包括：固件存储面，用以存储固件程序；其他存储面，包括多个区块，用以存储主机写入的数据；控制模块，电连接于所述闪存模块，用以判断所述其他存储面上的测试区块是否存在于坏块表中，并基于判断结果，对所述测试区块进行测试，所述坏块表为在所述闪存模块的筛选测试中，对坏区块创建的表；其中，所述控制模块对所述其他存储面上的多个测试区块进行擦除处理，并根据擦除结果，以生成测试信息；所述控制模块用以确认测试区块的数量大于等于三个时，根据测试区块的擦除结果生成测试信息，所述控制模块确认测试区块的数量小于三个时，在所述闪存模块上选取新的测试区块进行测试。