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一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统

申请号: CN202311523746.6
申请人: 广东工业大学
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202311523746.6
申请日 2023/11/15
公告号 CN117454821A
公开日 2024/1/26
IPC主分类号 G06F30/367
权利人 广东工业大学
发明人 李向杰; 刘冬宁
地址 广东省广州市越秀区东风东路729号

摘要文本

本发明公开了一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统,该方法包括:确定陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度;计算得到陶瓷电容器在不同频率下的表面温升;构建陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型;检测待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升;当待测陶瓷电容器表面温度发生变化时,则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型,计算得到待测陶瓷电容器施加的频率。本发明解决了陶瓷电容器在使用过程中受到杂波的频率过高时,会导致陶瓷电容器内部产生较大的内生热,严重时热量会导致陶瓷电容器温度很高,烧毁陶瓷电容器的问题。

专利主权项内容

1.一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤S1:确定陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度;步骤S2:根据陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度,计算得到陶瓷电容器在不同频率下的表面温升;步骤S3:基于陶瓷电容器在不同频率下的表面温升,构建陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型,其中,陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型表达式如下:其中,T表示在第i个频率点时陶瓷电容器的表面温升值;F表示第i个频率点时陶瓷电容器的频率值;K表示陶瓷电容器的比值系数;n表示频率点的总个数;ii步骤S4:检测待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升;步骤S5:当待测陶瓷电容器表面温度发生变化时,则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型,计算得到待测陶瓷电容器施加的频率。 来自马-克-数-据