一种IO延迟测试电路及方法
申请人信息
- 申请人:广东高云半导体科技股份有限公司
- 申请人地址:510700 广东省广州市黄埔区科学大道235号601房
- 发明人: 广东高云半导体科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种IO延迟测试电路及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311527320.8 |
| 申请日 | 2023/11/15 |
| 公告号 | CN117452187A |
| 公开日 | 2024/1/26 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 广东高云半导体科技股份有限公司 |
| 发明人 | 褚博; 王天心; 王光春; 张劼 |
| 地址 | 广东省广州市黄埔区科学大道235号601房 |
摘要文本
广东高云半导体科技股份有限公司获取“一种透气窗帘布”专利技术，一种IO延迟测试电路及其方法，该电路包括：第一输入输出电路、第二输入输出电路、开关电路和控制器；第一输入输出电路包括第一待测器件，以及与其相连的第一引出端；第二输入输出电路包括第二待测器件，以及与其相连的第二引出端；控制器用于通过开关电路将第一、第二引出端直接相连，根据第一、第二引出端之间的信号延迟时长，得到开关电路的延迟时长；以及用于通过开关电路将第一引出端、至少一个待测器件和第二引出端依次相连形成通路，根据测量得到的第一、第二引出端之间的信号延迟时长，以及开关电路的延迟时长，得到待测器件的延迟时长；待测器件包括第一待测器件和/或第二待测器件。本申请实施例能够实现IO电路延迟信息的精确测量。 （更多数据，详见专利查询网）
专利主权项内容
1.一种IO延迟测试电路，其特征在于，包括：第一输入输出电路、第二输入输出电路、开关电路和控制器；所述第一输入输出电路包括第一待测器件，以及与第一待测器件相连的第一引出端；所述第二输入输出电路包括第二待测器件，以及与所述第二待测器件相连的第二引出端；所述控制器用于通过所述开关电路将所述第一引出端和所述第二引出端直接相连，根据所述第一引出端和所述第二引出端之间的信号延迟时长，得到所述开关电路的延迟时长；以及用于通过所述开关电路将第一引出端、至少一个待测器件和所述第二引出端依次相连形成通路，根据测量得到的所述第一引出端和所述第二引出端之间的信号延迟时长，以及所述开关电路的延迟时长，得到该通路中的待测器件的延迟时长；所述待测器件包括所述第一待测器件和/或所述第二待测器件；其中，所述第一输入输出电路为单端输入输出电路和差分输入输出电路中的一种，所述第二输入输出电路为单端输入输出电路和差分输入输出电路中的一种。