阻抗检测方法、阻抗检测电路及阻抗检测设备
申请人信息
- 申请人:深圳市瀚强科技股份有限公司
- 申请人地址:518055 广东省深圳市南山区桃源街道长源社区学苑大道1001号南山智园D1栋1101
- 发明人: 深圳市瀚强科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 阻抗检测方法、阻抗检测电路及阻抗检测设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410026921.9 |
| 申请日 | 2024/1/9 |
| 公告号 | CN117538616A |
| 公开日 | 2024/2/9 |
| IPC主分类号 | G01R27/02 |
| 权利人 | 深圳市瀚强科技股份有限公司 |
| 发明人 | 王树晓; 陈亚梯 |
| 地址 | 广东省深圳市南山区桃源街道长源社区学苑大道1001号南山智园D1栋1101 |
摘要文本
本申请提供一种阻抗检测方法、阻抗检测电路及阻抗检测设备,涉及射频技术领域,阻抗检测方法应用于一阻抗检测设备中,用于对射频电路的阻抗值进行检测,包括:控制调节单元调节可调电抗单元的电抗值,并通过检测单元检测阻抗检测电路的电流值;在阻抗检测电路的电流达到峰值时,控制调节单元停止调节可调电抗单元的电抗值,并进一步调节可调电阻单元的电阻值直到可调电阻单元的功率达到峰值,并通过检测单元检测可调电阻单元的功率值;基于阻抗检测电路的电流达到峰值时可调电抗单元的电抗值,以及可调电阻单元的功率达到峰值时可调电阻单元的电阻值,对应得到射频电路的阻抗值。本申请可在射频电路工作的时候动态检测射频电路的阻抗值。 微信公众号马克 数据网
专利主权项内容
1.一种阻抗检测方法,其特征在于,应用于一阻抗检测设备中,用于对射频电路的阻抗值进行检测,所述阻抗检测设备包括阻抗检测电路以及检测单元;所述阻抗检测电路包括可调电抗单元、可调电阻单元以及调节单元,所述可调电抗单元连接于所述射频电路的输出路径中,具有可调的电抗值,所述可调电阻单元与所述可调电抗单元串联连接于所述射频电路的输出路径中,具有可调的电阻值,所述调节单元用于调节所述可调电抗单元的电抗值和所述可调电阻单元的电阻值;其中,所述阻抗检测方法包括:控制调节单元调节可调电抗单元的电抗值,并通过检测单元检测阻抗检测电路的电流值;在阻抗检测电路的电流达到峰值时,控制调节单元停止调节可调电抗单元的电抗值,并进一步调节可调电阻单元的电阻值直到可调电阻单元的功率达到峰值,并通过检测单元检测可调电阻单元的功率值;基于阻抗检测电路的电流达到峰值时可调电抗单元的电抗值,以及可调电阻单元的功率达到峰值时可调电阻单元的电阻值,对应得到射频电路的阻抗值。