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射频芯片的测试座
申请人信息
- 申请人:南京燧锐科技有限公司
- 申请人地址:211899 江苏省南京市江北新区华创路73号高新总部大厦D座2-3楼
- 发明人: 南京燧锐科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 射频芯片的测试座 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410050664.2 |
| 申请日 | 2024/1/12 |
| 公告号 | CN117572045A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | G01R1/04 |
| 权利人 | 南京燧锐科技有限公司 |
| 发明人 | 徐凌; 朱月月; 蔡鹏 |
| 地址 | 江苏省南京市江北新区华创路73号高新总部大厦D座2-3楼 |
摘要文本
本发明涉及射频芯片的测试座，包括线路板；容纳位；设置在线路板和容纳位之间的导体针座；位于所述导体针座中的第一屏蔽探针；线路板的材料和形状、导体针座的材料和形状满足条件：使得测试时测试座中谐振腔的震荡频率不在预定频段。 数据由马 克 团 队整理
专利主权项内容
1.一种射频芯片的测试座，其特征在于，包括：线路板；容纳位；设置在所述线路板和所述容纳位之间的导体针座；位于所述导体针座中的第一屏蔽探针；所述线路板的材料和形状、所述导体针座的材料和形状满足条件：使得测试时所述测试座中谐振腔的震荡频率不在预定频段。