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一种缺陷轮廓复合检测方法、装置、设备及存储介质
申请人信息
- 申请人:深存科技(无锡)有限公司
- 申请人地址:214000 江苏省无锡市新吴区弘毅路10号金乾座401、402室
- 发明人: 深存科技(无锡)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种缺陷轮廓复合检测方法、装置、设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410095440.3 |
| 申请日 | 2024/1/24 |
| 公告号 | CN117611590A |
| 公开日 | 2024/2/27 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 深存科技(无锡)有限公司 |
| 发明人 | 请求不公布姓名; 请求不公布姓名 |
| 地址 | 江苏省无锡市新吴区弘毅路10号金乾座401、402室 |
摘要文本
本申请涉及一种缺陷轮廓复合检测方法、装置、设备及存储介质,应用在人工智能领域,其中方法包括:获取待检测图像,识别待检测图像中的缺陷,生成待检测子图;识别缺陷对应的第一缺陷区域,生成第一缺陷区域对应的第一缺陷轮廓;通过对待检测子图执行数字图像处理操作,识别缺陷对应的第二缺陷区域,生成第二缺陷区域对应的第二缺陷轮廓;确定第一缺陷区域和第二缺陷区域对应的差异像素点,对差异像素点进行修正,生成修正缺陷轮廓。本申请具有的技术效果是:通过使用预测模型识别缺陷轮廓,结合数字图像处理对缺陷轮廓进行精细调整,既提高了处理效率,又提高了对缺陷轮廓修正的精确性。
专利主权项内容
1.一种缺陷轮廓复合检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取待检测图像,识别所述待检测图像中的缺陷,生成所述缺陷的目标检测框,根据所述目标检测框所在的区域生成待检测子图;对所述待检测子图中像素点进行判断,得到每个像素点的类别信息,所述类别信息包括缺陷像素点或背景像素点;基于所述缺陷像素点,确定所述待检测子图中的第一缺陷区域;将位于所述第一缺陷区域外围的缺陷像素点确定为所述第一缺陷区域对应的第一缺陷轮廓;对所述待检测子图执行去噪及边缘提取操作,识别所述待检测子图对应的第二缺陷区域,生成与所述第二缺陷区域对应的边缘图像;通过对所述边缘图像中的像素点进行连通域过滤,去除所述边缘图像中的假边缘;结合膨胀操作和侵蚀操作,连接所述边缘图像中断裂的边缘;基于所述边缘图像中能够进行封闭连接的像素点,提取所述边缘图像的若干像素点轮廓,并将轮廓内面积最大的所述像素点轮廓确定为第二缺陷轮廓;确定所述第一缺陷区域和所述第二缺陷区域对应的差异像素点,对所述差异像素点进行修正,生成修正缺陷轮廓。