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一种高光效的发光二极管外延片及其制备方法

申请号: CN202410225323.4
申请人: 江西兆驰半导体有限公司
更新日期: 2026-03-20

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种高光效的发光二极管外延片及其制备方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410225323.4
申请日 2024/2/29
公告号 CN117810325A
公开日 2024/4/2
IPC主分类号 H01L33/06
权利人 江西兆驰半导体有限公司
发明人 程龙; 郑文杰; 高虹; 刘春杨; 胡加辉; 金从龙
地址 江西省南昌市南昌高新技术产业开发区天祥北大道1717号

摘要文本

本发明涉及发光二极管技术领域,公开了一种高光效的发光二极管外延片及其制备方法。所述外延片包括衬底、于衬底上依次沉积的缓冲层、非掺杂GaN层、第一N型GaN层、有源层、三维电子阻挡层和空穴注入层,所述有源层具有V型坑结构,其中,所述三维电子阻挡层为P型AlInGaN层,所述空穴注入层包括P型GaN层、InGaN插入层和第二N型GaN层。实施本发明,能够减少电子溢流效应,提高活化Mg浓度,提高空穴浓度,提高空穴注入效率,同时降低接触电阻,进而提升发光二极管的发光效率。

专利主权项内容

1.一种高光效的发光二极管外延片,其特征在于:包括衬底、于衬底上依次沉积的缓冲层、非掺杂GaN层、第一N型GaN层、有源层、三维电子阻挡层和空穴注入层,所述有源层具有V型坑结构,其中,所述有源层为交替堆叠的InGaN量子阱层和AlGaN量子垒层,所述三维电子阻挡层为P型AlInGaN层,所述空穴注入层包括P型GaN层、InGaN插入层和第二N型GaN层;所述三维电子阻挡层中Al组分逐渐降低,In组分逐渐升高;所述P型AlInGaN层的掺杂浓度低于所述P型GaN层的掺杂浓度。