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专利摘要

本发明涉及一种简单、高效降低SiC单晶中碳包裹物的方法,包括步骤如下:以Si粉和C粉作为原料,使C粉过量,在真空高温条件下制备富碳SiC粉料;以富碳SiC粉料为原料,采用物理气相传输法,制备SiC单晶;或者,采用物理气相传输法,将Si/C=1:1的SiC粉料置于石墨坩埚底部,并在生长低温区放置C粉,制备SiC单晶。
本发明中降低SiC单晶中的碳包裹物的方法,在降低晶体中碳包裹物的同时,不会在晶体中产生额外的微管、多型夹杂等缺陷,能够大幅度提高SiC单晶的质量。

专利状态

基础信息

专利号
CN201911190543.3
申请日
2019-11-28
公开日
2021-05-28
公开号
CN110872728B
主分类号
/C/C30/ 化学;冶金
标准类别
晶体生长
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

谢雪健 徐现刚 陈秀芳 杨祥龙 胡小波

申请人

山东大学

申请人地址

250199 山东省济南市历城区山大南路27号

专利摘要

本发明涉及一种简单、高效降低SiC单晶中碳包裹物的方法,包括步骤如下:以Si粉和C粉作为原料,使C粉过量,在真空高温条件下制备富碳SiC粉料;以富碳SiC粉料为原料,采用物理气相传输法,制备SiC单晶;或者,采用物理气相传输法,将Si/C=1:1的SiC粉料置于石墨坩埚底部,并在生长低温区放置C粉,制备SiC单晶。
本发明中降低SiC单晶中的碳包裹物的方法,在降低晶体中碳包裹物的同时,不会在晶体中产生额外的微管、多型夹杂等缺陷,能够大幅度提高SiC单晶的质量。

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