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专利摘要

本发明涉及传感器技术领域,具体是一种单轴高冲击加速度传感器及其制造方法,所述单轴高冲击加速度传感器包括有SOI晶圆衬底、硅梁和惯性质量块,所述SOI晶圆衬底设置有方形槽,所述SOI晶圆衬底上设置有惠斯通电桥,所述惠斯通电桥的桥臂上设置有制作在硅梁上的应变电阻,本发明体积小、灵敏度高、可以承受高载荷,SOI晶圆衬底中间带有氧化层,拓宽单轴高冲击加速度传感器使用的温度范围;解决传统制备工艺PN结因高温而导致器件失效问题,一种单轴高冲击加速度传感器及其制造方法,采用反应离子刻蚀机对压阻区进行光刻,解决现有离子注入方式会产生侧向效应拓宽压阻区面积的问题,采用SOI衬底能够提高单轴高冲击加速度传感器使用寿命。

专利状态

基础信息

专利号
CN201910519350.1
申请日
2019-06-17
公开日
2020-12-18
公开号
CN112093771A
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

任政 苏刚 王红战

申请人

芜湖天波光电技术研究院有限公司

申请人地址

241000 安徽省芜湖市弋江区高新区信息产业园3栋15层1502室

专利摘要

本发明涉及传感器技术领域,具体是一种单轴高冲击加速度传感器及其制造方法,所述单轴高冲击加速度传感器包括有SOI晶圆衬底、硅梁和惯性质量块,所述SOI晶圆衬底设置有方形槽,所述SOI晶圆衬底上设置有惠斯通电桥,所述惠斯通电桥的桥臂上设置有制作在硅梁上的应变电阻,本发明体积小、灵敏度高、可以承受高载荷,SOI晶圆衬底中间带有氧化层,拓宽单轴高冲击加速度传感器使用的温度范围;解决传统制备工艺PN结因高温而导致器件失效问题,一种单轴高冲击加速度传感器及其制造方法,采用反应离子刻蚀机对压阻区进行光刻,解决现有离子注入方式会产生侧向效应拓宽压阻区面积的问题,采用SOI衬底能够提高单轴高冲击加速度传感器使用寿命。

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