本发明公开的一种SiC单晶纳米尺度的等离子体电化学抛光方法,首先将将SiC单晶放在浓H2SO4和H2O2的混合溶液中里浸泡;其次,测量SiC单晶待抛光面的表面粗糙度,确定出疏化层的厚度;然后,在水基电解液中,以SiC单晶为阳极,不锈钢为阴极,根据疏化层的厚度,控制电压调制O2‑的离化率,通过O2‑活化电解改性SiC表面,在SiC表面生成疏化层;最后使用软磨料CeO2去除表面生成的疏化层后,重复电解抛光工序清洗干燥即可。
本发明公开的方法通过用等离子体电化学在材料表面生成疏化膜,降低表面硬度后采用软性磨粒去除,避免材料产生脆性断裂等机械损伤表面无化学残留,提高表面抛光质量的同时兼顾抛光效率。
李淑娟 尹新城 李志鹏 赵智渊 贾祯 蒋百铃
西安理工大学
710048 陕西省西安市碑林区金花南路5号
本发明公开的一种SiC单晶纳米尺度的等离子体电化学抛光方法,首先将将SiC单晶放在浓H2SO4和H2O2的混合溶液中里浸泡;其次,测量SiC单晶待抛光面的表面粗糙度,确定出疏化层的厚度;然后,在水基电解液中,以SiC单晶为阳极,不锈钢为阴极,根据疏化层的厚度,控制电压调制O2‑的离化率,通过O2‑活化电解改性SiC表面,在SiC表面生成疏化层;最后使用软磨料CeO2去除表面生成的疏化层后,重复电解抛光工序清洗干燥即可。
本发明公开的方法通过用等离子体电化学在材料表面生成疏化膜,降低表面硬度后采用软性磨粒去除,避免材料产生脆性断裂等机械损伤表面无化学残留,提高表面抛光质量的同时兼顾抛光效率。