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专利摘要

本发明公开了一种大面积有机半导体单晶及其制备方法和应用,大面积有机半导体单晶的制备方法包括以下步骤:使基底保持40~60℃的温度,在所述基底的上表面设置一刮刀,位于所述刮刀底端的刀刃与所述基底的上表面的距离为5~20微米,在刮刀和基底之间滴加浓度为1~10mg/mL的有机半导体溶液,以0.01~0.4mm/s的速度移动刮刀或基底,以使基底和刮刀发生相对移动,在所述刀刃经过的基底上得到所述大面积有机半导体单晶。
本发明大面积有机半导体单晶的制备都是在室温20~25℃下进行的,避免了高温对有机半导体性能的影响。
由于间距的减小使得分子受到的剪切应力大大增加,使得最终形成大面积的单晶膜。

专利状态

基础信息

专利号
CN201910002603.8
申请日
2019-01-02
公开日
2020-07-10
公开号
CN111394794A
主分类号
/C/C30/ 化学;冶金
标准类别
晶体生长
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

胡文平 汪涛 任晓辰 段树铭 耿博文 高雄 张静

申请人

天津大学

申请人地址

300072 天津市南开区卫津路92号

专利摘要

本发明公开了一种大面积有机半导体单晶及其制备方法和应用,大面积有机半导体单晶的制备方法包括以下步骤:使基底保持40~60℃的温度,在所述基底的上表面设置一刮刀,位于所述刮刀底端的刀刃与所述基底的上表面的距离为5~20微米,在刮刀和基底之间滴加浓度为1~10mg/mL的有机半导体溶液,以0.01~0.4mm/s的速度移动刮刀或基底,以使基底和刮刀发生相对移动,在所述刀刃经过的基底上得到所述大面积有机半导体单晶。
本发明大面积有机半导体单晶的制备都是在室温20~25℃下进行的,避免了高温对有机半导体性能的影响。
由于间距的减小使得分子受到的剪切应力大大增加,使得最终形成大面积的单晶膜。

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