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专利摘要

本发明公开一种基于三层胶的金属剥离方法,包括以下步骤:选择基片并清洗;在基片顶面旋涂第一光刻胶层;根据金属版图图形,在第一光刻胶层上进行图形曝光、显影;旋涂LOR胶层;在LOR胶层顶面旋涂第二光刻胶层;根据金属版图图形,在第二光刻胶层上进行图形曝光、显影;同时显影去除相对应的LOR胶层区域,使基片顶面的图形区域暴露;第二光刻胶层的图形内切小于第一光刻胶层的图形内切;溅射金属Pt,在基片顶面的图形区域得到金属图形;采用超声浸泡和剥离工艺,对剩余的第一光刻胶层、LOR胶层与第二光刻胶层同时剥离;该方法能够用于高精度线宽控制的金属图形化,提高金属线宽的均匀性,提高良率,且工艺简单。

专利状态

基础信息

专利号
CN202011026789.X
申请日
2020-09-25
公开日
2021-01-26
公开号
CN112271133A
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

张胜兵 曾鸣鸣 孟洁 白建新 丁艳丽

申请人

华东光电集成器件研究所

申请人地址

233030 安徽省蚌埠市经济开发区汤和路2016号

专利摘要

本发明公开一种基于三层胶的金属剥离方法,包括以下步骤:选择基片并清洗;在基片顶面旋涂第一光刻胶层;根据金属版图图形,在第一光刻胶层上进行图形曝光、显影;旋涂LOR胶层;在LOR胶层顶面旋涂第二光刻胶层;根据金属版图图形,在第二光刻胶层上进行图形曝光、显影;同时显影去除相对应的LOR胶层区域,使基片顶面的图形区域暴露;第二光刻胶层的图形内切小于第一光刻胶层的图形内切;溅射金属Pt,在基片顶面的图形区域得到金属图形;采用超声浸泡和剥离工艺,对剩余的第一光刻胶层、LOR胶层与第二光刻胶层同时剥离;该方法能够用于高精度线宽控制的金属图形化,提高金属线宽的均匀性,提高良率,且工艺简单。

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