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专利摘要

本发明为碳化硅基板的制造方法,具有:准备在由碳、硅或碳化硅构成的母材基板1a的两面设置包含氧化硅、氮化硅、氮化碳化硅或硅化物的被覆层1b、1b并使该被覆层1b、1b表面成为平滑面的支承基板1的工序;在所述支承基板1的两面采用气相生长法或液相生长法形成多晶碳化硅的膜10的工序;将所述支承基板1中至少被覆层1b、1b以化学方式除去,在使被覆层1b、1b表面的平滑性反映于表面的状态下将多晶碳化硅的膜从该支承基板1分离,作为晶粒直径为10nm以上且10μm以下、至少一个主面的算术平均粗糙度Ra为0.3nm以下的碳化硅基板10a、10b得到该多晶碳化硅的膜的工序。
由此实现表面平滑且平坦并且内部应力也减小的碳化硅基板。

专利状态

基础信息

专利号
CN201880014716.3
申请日
2018-03-01
公开日
2021-07-27
公开号
CN110366611B
主分类号
/C/C30/ 化学;冶金
标准类别
晶体生长
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

长泽弘幸 久保田芳宏 秋山昌次

申请人

信越化学工业株式会社 CUSIC股份有限公司

申请人地址

日本东京

专利摘要

本发明为碳化硅基板的制造方法,具有:准备在由碳、硅或碳化硅构成的母材基板1a的两面设置包含氧化硅、氮化硅、氮化碳化硅或硅化物的被覆层1b、1b并使该被覆层1b、1b表面成为平滑面的支承基板1的工序;在所述支承基板1的两面采用气相生长法或液相生长法形成多晶碳化硅的膜10的工序;将所述支承基板1中至少被覆层1b、1b以化学方式除去,在使被覆层1b、1b表面的平滑性反映于表面的状态下将多晶碳化硅的膜从该支承基板1分离,作为晶粒直径为10nm以上且10μm以下、至少一个主面的算术平均粗糙度Ra为0.3nm以下的碳化硅基板10a、10b得到该多晶碳化硅的膜的工序。
由此实现表面平滑且平坦并且内部应力也减小的碳化硅基板。

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