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专利摘要

本发明提供了一种具有高载体浓度和结晶度的GaAs单晶的制造方法和一种GaAs单晶晶片。
本发明为GaAs单晶的制造方法,其特征在于,在在坩埚(4)中容纳晶种(10)、Si材料(12)、作为杂质的GaAs材料(14)、固体二氧化硅(16)和氧化硼材料(18)的状态下进行立式舟法,并生长GaAs单晶(20)。

专利状态

基础信息

专利号
CN201280036835.1
申请日
2012-05-16
公开日
2014-04-02
公开号
CN103703172A
主分类号
/C/C30/ 化学;冶金
标准类别
晶体生长
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-公开

发明人

中村良一 村上元一 宫地岳广

申请人

同和电子科技有限公司

申请人地址

日本东京都

专利摘要

本发明提供了一种具有高载体浓度和结晶度的GaAs单晶的制造方法和一种GaAs单晶晶片。
本发明为GaAs单晶的制造方法,其特征在于,在在坩埚(4)中容纳晶种(10)、Si材料(12)、作为杂质的GaAs材料(14)、固体二氧化硅(16)和氧化硼材料(18)的状态下进行立式舟法,并生长GaAs单晶(20)。

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