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一种线膨胀系数检测装置及方法

发明申请
申请号: CN202410213681.3
申请日期: 2024/2/27
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

基于上下文信息区分利用的遥感图像目标检测方法

发明申请
申请号: CN202410213682.8
申请日期: 2024/2/27
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

RB-SiC基底表面改性层的制备装置及方法

发明申请
申请号: CN202410033590.1
申请日期: 2024/1/10
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种半导体晶圆基底清洗方法

发明申请
申请号: CN202410184857.7
申请日期: 2024/2/19
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

抗无人机起落架遮挡的运动目标跟踪方法

发明申请
申请号: CN202410119750.4
申请日期: 2024/1/29
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种降低漏电的CMOS器件及其制备方法

发明申请
申请号: CN202410171444.5
申请日期: 2024/2/7
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种低温多晶硅薄膜及其制备方法

发明申请
申请号: CN202410160893.X
申请日期: 2024/2/5
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种基于4H-SiC衬底的高性能CMOS器件

发明申请
申请号: CN202410160894.4
申请日期: 2024/2/5
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种晶圆清洗装置及晶圆清洗方法

发明申请
申请号: CN202410167915.5
申请日期: 2024/2/6
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

基于纹理分解模型的高动态图像合成方法

发明申请
申请号: CN202410088342.7
申请日期: 2024/1/22
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种低应力深沟槽多晶栅及其制备方法

发明申请
申请号: CN202410193083.4
申请日期: 2024/2/21
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种球型积分腔结构及离轴积分腔气体测量仪

发明申请
申请号: CN202410078454.4
申请日期: 2024/1/19
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种同时标定相机内参和导出相机坐标系的方法

发明申请
申请号: CN202410036834.1
申请日期: 2024/1/10
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

惯组捷联式星敏感器及其应用

发明申请
申请号: CN202410184867.0
申请日期: 2024/2/19
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

光纤章动耦合方法、系统、设备及存储介质

发明申请
申请号: CN202410202560.9
申请日期: 2024/2/23
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种沟槽栅MOS半导体器件及其制造方法

发明申请
申请号: CN202410184860.9
申请日期: 2024/2/19
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种具有上料功能的半导体机台

发明申请
申请号: CN202410184863.2
申请日期: 2024/2/19
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种硅通孔的形成方法

发明申请
申请号: CN202410184890.X
申请日期: 2024/2/19
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

水样核酸提取装置及水样核酸提取方法

发明申请
申请号: CN202410221376.9
申请日期: 2024/2/28
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

矩阵法计算驻留时间的离散形式修正方法

发明申请
申请号: CN202410227836.9
申请日期: 2024/2/29
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种硅通孔的测试结构

发明申请
申请号: CN202410105869.6
申请日期: 2024/1/25
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种大口径大视场望远镜光学结构

发明申请
申请号: CN202410126490.3
申请日期: 2024/1/30
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

多色荧光显微成像系统、成像方法、自动聚焦方法

发明申请
申请号: CN202410161242.2
申请日期: 2024/2/5
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

一种硅通孔芯片的缺陷检测方法

发明申请
申请号: CN202410184859.6
申请日期: 2024/2/19
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

反射镜主镜装配间隔面的检测装置及反射镜主镜装调方法

发明申请
申请号: CN202410184866.6
申请日期: 2024/2/19
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:

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