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基于事件引导的图像去模糊方法
发明申请
申请号:
CN202410172051.6
申请日期:
2024/2/7
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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差分变压器谐振电桥电路搭建方法
发明申请
申请号:
CN202410241413.2
申请日期:
2024/3/4
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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一种晶圆刻蚀装置及刻蚀方法
发明申请
申请号:
CN202410201555.6
申请日期:
2024/2/23
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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大行程高精度的微位移促动装置
发明授权
申请号:
CN202410043220.6
申请日期:
2024/1/11
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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反射镜抗冲击柔性结构
发明申请
申请号:
CN202410184865.1
申请日期:
2024/2/19
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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一种多晶硅薄膜及其制备方法
发明申请
申请号:
CN202410160892.5
申请日期:
2024/2/5
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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计算机信息数据交互传输管理系统及方法
发明授权
申请号:
CN202410064688.3
申请日期:
2024/1/17
申请人:
长春金融高等专科学校
授权公告日:
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一种用于入侵植物种子检测的图像识别系统
发明申请
申请号:
CN202410212674.1
申请日期:
2024/2/27
申请人:
长春师范大学
授权公告日:
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MIM电容器中绝缘体薄膜及其制备方法
发明申请
申请号:
CN202410184897.1
申请日期:
2024/2/19
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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一种防漏电抗辐射CMOS器件及其制备方法
发明申请
申请号:
CN202410166560.8
申请日期:
2024/2/6
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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一种硅通孔的形成方法
发明申请
申请号:
CN202410167914.0
申请日期:
2024/2/6
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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一种便携式两轴电动指向机构
发明申请
申请号:
CN202410166346.2
申请日期:
2024/2/6
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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一种自组装垂直取向膜的制备方法
发明申请
申请号:
CN202410221380.5
申请日期:
2024/2/28
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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点目标红外辐射测量方法
发明申请
申请号:
CN202410171445.X
申请日期:
2024/2/7
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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一种大视场远距离多目相机内外参数标定装置及方法
发明申请
申请号:
CN202410235334.0
申请日期:
2024/3/1
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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一种土壤改良方法及增肥装置
发明申请
申请号:
CN202410113165.3
申请日期:
2024/1/26
申请人:
吉林省根美特生物科技有限公司; 磐石市农业综合行政执法大队
授权公告日:
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抛光磨头、抛光与原位检测装置及抛光加工方法
发明申请
申请号:
CN202410150750.0
申请日期:
2024/2/2
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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一种检测半导体晶片厚度的检测装置
发明申请
申请号:
CN202410213683.2
申请日期:
2024/2/27
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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一种半干旱区湖滨岸线边坡的植被优化配置方法
发明授权
申请号:
CN202410017060.8
申请日期:
2024/1/5
申请人:
中国科学院东北地理与农业生态研究所
授权公告日:
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抛光与原位检测装置及抛光加工方法
发明申请
申请号:
CN202410150752.X
申请日期:
2024/2/2
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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一种环形同轴明暗场同步光学相干层析成像装置
发明申请
申请号:
CN202410073328.X
申请日期:
2024/1/18
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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一种存储器双模冗余切换电路
发明申请
申请号:
CN202410227834.X
申请日期:
2024/2/29
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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引用
一种半导体功率器件的封装方法及封装结构
发明申请
申请号:
CN202410172052.0
申请日期:
2024/2/7
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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引用
一种基于深度学习算法的CMOS的缺陷检测方法
发明申请
申请号:
CN202410166424.9
申请日期:
2024/2/6
申请人:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
授权公告日:
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引用
一种特殊零件角度测量装置及其测量方法
发明申请
申请号:
CN202410161027.2
申请日期:
2024/2/5
申请人:
吉林珩辉光电科技有限公司
授权公告日:
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